April 2007

Finetech 2007

Schon zum dritten Mal in Folge hat die JENOPTIK Surface Inspection GmbH Ihre Technologie auf der internationalen Leitmesse für die Display-Industrie vorgestellt. Wir danken dem internationalen Fachpublikum für die vielen Gespräche und neuen Kontakte.

März 2007

ICE 2007

Auf der ICE 2007 in München wurde dem internationalen Fachpublikum eine Live-Demonstration von IQLine, dem Oberflächeninspektionssystem der neuesten Generation vorgeführt. Der Publikumsandrang hat unsere Erwartungen erheblich übertroffen und wir möchten an dieser Stelle allen Besuchern unseres Messestandes für die zahlreichen interessanten Gespräche danken.

Die internationale Leitmesse der Glasindustrie war die geeignete Plattform für die Präsentation unserer neuen Systemgeneration IQLine. Wir freuen uns über die große Zahl an interessanten Fachgesprächen und -kontakten und danken außerdem den vielen Bestandskunden, die uns auf der Messe besucht haben.

Die weltweiten Märkte unterliegen einer stetigen Weiterentwicklung und verlangen nach immer präziseren, schnelleren und leistungsfähigeren Systemen zur Qualitätskontrolle von Produktionsprozessen.

Unser neues Oberflächeninspektionssystem IQLine mit seiner flexiblen Architektur ist die Antwort auf diese Herausforderung. Eine universelle Basisplattform mit optionalen Hard - und Softwarekomponenten bildet ein skalierbares Qualitätssicherungsinstrument mit CCD - oder Lasertechnologie, das sich optimal an die jeweilige Anwendung anpassen lässt.

Vom 14. bis zum 16. Juni 2006 stellte die JENOPTIK Surface Inspection GmbH ihr Inspektionssystem SIRIS-G zum ersten Mal auf der FPD in Taiwan aus. Zahlreiche internationale Besucher sorgten dafür, dass unserem Standpersonal nie langweilig wurde.

Nach den Erfolgen in München wurde die populäre Beschichtungsmesse ICE zum ersten Mal in Großbritannien abgehalten. Vom 13.-14. Juni 2006 nutzten zahlreiche Besucher die Gelegenheit, sich auf unserem Stand in direkten Gesprächen über unsere Systeme informieren.

JENOPTIK Surface Inspection GmbH stellt auf der SID Show 2006 aus und präsentiert SIRIS-G

Vom 4. bis 9. Juni führten wir dem Messepublikum in Zusammenarbeit mit unserem amerikanischen Partner Darkfield Technologies unser Inspektionssystem SIRIS-G auf der SID Show 2006 in San Francisco vor.

Wir bedanken uns bei den zahlreichen Besuchern aus aller Welt und freuen uns über die gewonnenen Kontakte.

Vom 19. April bis zum 21. April stellte die Jenoptik Surface Inspection GmbH auf der Finetech 2006 das Inspektionssystem SIRIS-G vor. Die Resonanz des internationalen Fachpublikums war sehr erfreulich und resultierte in einer Vielzahl von interessanten Fachgesprächen und Kontaktaufnahmen.